densoku電解膜厚計(jì)的原理分析

發(fā)布日期：2022-11-07      瀏覽次數(shù)：526

densoku各類膜厚計(jì)的原理

鍍膜厚度是通過陽極電解法溶解鍍膜來測(cè)量的。（陽極電解電路見圖1。）在鍍膜結(jié)束時(shí)，由于測(cè)量部分被恒流溶解，膜金屬消失，當(dāng)金屬出現(xiàn)時(shí)，陽極電壓發(fā)生變化，檢測(cè)到此電壓變化以結(jié)束測(cè)量。（見圖2）



電解膜測(cè)厚儀的特點(diǎn)

• 雖然是破壞型測(cè)量，但可以通過簡(jiǎn)單的測(cè)量進(jìn)行測(cè)量，也可以測(cè)量多層鍍層。

• 可測(cè)量雙鎳和三鎳各層的膜厚和電位差

• 可以分別測(cè)量在銅上鍍錫時(shí)形成的純錫層和合金層的厚度。

• 可測(cè)量 X 射線無法測(cè)量的厚多層鍍層（最大 300 μm）

• 通過使用電線測(cè)試儀，可以測(cè)量細(xì)電線上的鍍膜厚度。

使用示例

• 鍍錫線（鍍錫銅線）純錫層厚度測(cè)量

• 汽車外飾件用Cr/Ni/Cu三層鍍層
  測(cè)量，Ni鍍層用雙鎳/三鎳電位差測(cè)量

• 對(duì)無損膜厚計(jì)的測(cè)量進(jìn)行交叉檢查

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