使用切割法測(cè)量薄膜的粘合力和剪切強(qiáng)度技術(shù)分析
表面與界面物性分析設(shè)備
該裝置可以通過(guò)簡(jiǎn)單的操作測(cè)量剝離強(qiáng)度和剪切強(qiáng)度。它還
可以應(yīng)用于多層薄膜中各層分析(IR等)的前處理。
■對(duì)于那些難以評(píng)估薄膜和涂層材料的物理性能的人!
● 是否可以量化剝離強(qiáng)度涂層材料
的粘合程度● 是否可以量化
剪切強(qiáng)度涂層材料
的強(qiáng)度
● 強(qiáng)度的深度方向分析
該材料的變化有多深
● 多層膜 多層膜 我想要了解各層的剝離強(qiáng)度和剪切強(qiáng)度。
●其他 通過(guò)更換刀片可以測(cè)量耐劃傷性、摩擦系數(shù)、硬度。
■原理
使用鋒利的切削刃從材料表面向內(nèi)部進(jìn)行切削,讀取切削刃上產(chǎn)生的阻力。
“剪切強(qiáng)度"可以在切割刀片的切割階段測(cè)量,“剝離強(qiáng)度"可以通過(guò)沿著界面移動(dòng)來(lái)測(cè)量。
★照片:多層木刻
★照片:抗蝕劑膜(約0.5μm厚)的切割截面
在斜切部分觀察到由于膜壓力差異而產(chǎn)生的干涉條紋。
以小角度傾斜切割有機(jī)薄膜樣品。通過(guò)使用TOF-SIMS對(duì)切割截面進(jìn)行表面分析,無(wú)需蝕刻即可進(jìn)行深度分析。
700nm抗蝕膜
切割樣品
(長(zhǎng)距離斜切)
通過(guò)結(jié)合各種類(lèi)型的表面分析和傾斜切割方法,
可以在不損壞有機(jī)薄膜的情況下進(jìn)行深度方向分析。
●TOF-SIMS
●顯微FT-IR
●成像IR
●XPS
●熱物理性質(zhì)顯微鏡...納米薄膜和微米區(qū)域的熱分析分布測(cè)量
用于各領(lǐng)域功能有機(jī)薄膜的深度方向分析
●有機(jī)EL
●抗蝕劑
●UV固化樹(shù)脂
●Low-k膜
●涂膜
●燃料電池等 表面界面物性分析系統(tǒng) Cycas