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用于零件清潔后油污紫外線檢查光源

  • 發(fā)布日期:2021-11-04      瀏覽次數(shù):1095
    • 用于零件清潔后油污紫外線檢查光源


      油渣肉眼可見!

      清潔后的油殘留物通常是肉眼看不見的,會(huì)影響后續(xù)的涂層、粘合和組裝。生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用的油通常含有作為發(fā)光源的熒光物質(zhì),通過 UV Artel S 照射,殘留在產(chǎn)品中的油會(huì)發(fā)光并可以通過肉眼看到。它可以用作內(nèi)部清潔現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量改進(jìn)管理工具,而無需外包殘留油含量的測(cè)量。

      用這只眼睛可以看到纖維粉塵!

      在噴漆、印刷、貼膜、精密組裝等過程中,常見的缺陷之一就是外觀不良。原因是灰塵或異物粘附在材料表面。重要的是,工作過程中可能會(huì)產(chǎn)生纖維粉塵。UV Artel 是一種紫外線燈,它使用高度定向的紫外線直射光來可視化彎曲表面和不平坦表面上的纖維灰塵。與 Clean Check Light 系列產(chǎn)品結(jié)合使用時(shí),可以處理各種粗顆粒和材料。

       

      UV Artel S的效果

      UV Artel S = 黑光。利用其特性,油和纖維中所含的熒光粉發(fā)光,使附著在產(chǎn)品上的看不見的油渣和纖維粉塵可見。

      * 使用前請(qǐng)事先確認(rèn)沉淀物是否為發(fā)光物質(zhì)。
      * 使用時(shí),如果在暗室等較暗的地方看,會(huì)更容易看清。

       

      與一般黑光的區(qū)別

      波長(zhǎng)為380nm以下的光稱為紫外光,不能用肉眼確認(rèn)。UV Artel 系列使用紫外光代替可見光來產(chǎn)生激發(fā)光,使異物和油類可視化。此外,通過使用對(duì)異物和油的可視化有效的峰值波長(zhǎng) 365nm UV LED,以及通過使用光學(xué)設(shè)計(jì)的氣相沉積透鏡,可見光等不需要的波長(zhǎng)被切斷,僅峰值波長(zhǎng)為 365nm 的短波長(zhǎng)被輻照。增加。由于它幾乎不含可見光,因此看起來比其他公司的紫外線燈更暗(紫色較弱),但紫外線強(qiáng)度非常強(qiáng)。

      左:普通黑光 右:UV Artel S(暗室拍攝)

       

      發(fā)光示例

      • 加工油、切削油等

       

      • 紡織廢料、針織布、布手套、手巾、復(fù)印紙等。

       

      不發(fā)光的例子

      • 指紋、皮脂、硅油、氟油、色拉油、橄欖油等。

      • 廢紙布、手用抹布等

      油,例如樹脂產(chǎn)品和樹脂和金屬的組合,例如部分殘留物、樹脂材料或粘合劑等檢查應(yīng)用中的成型產(chǎn)品終反應(yīng),使用 UV Ateru S 可視化被認(rèn)為是難.. 

       

      特殊長(zhǎng)度

      • 使用 365nm 紫外線 LED

      • 在正常環(huán)境下可以從油和纖維中發(fā)光

      • 高輸出可實(shí)現(xiàn)直線方向的發(fā)光

      • 輕便小巧的袖珍設(shè)計(jì)

      • 連續(xù)使用時(shí)間可達(dá)3小時(shí),備用電池可長(zhǎng)時(shí)間使用

       

      使用方法(在漏油的情況下)

      • 清洗后油渣可視化

      • 異物(纖維粉塵)污染檢查

      • 機(jī)械設(shè)備漏油檢測(cè)

      • 汽車空調(diào)冷卻液泄漏檢測(cè)

       

      使用方法(在纖維粉塵排放的情況下)

      • 在不喜歡紡織廢料的工作場(chǎng)所

      • 產(chǎn)品灰塵/異物檢測(cè)

      • 清掃潔凈室前后檢查灰塵

      • 故障原因的具體調(diào)查

      • 清潔器管理

       

       

       通過用紫外線照射潔凈室的角落,紫外線輸出強(qiáng),可見光被阻擋,因此即使在明亮的地方也可以看到附著在潔凈磨損上的纖維灰塵。

       

       

      它作為檢查清潔軟件的存儲(chǔ)狀態(tài)和改進(jìn)它的指南非常有效。 

       

       

      如果用 Quantum 和 UV Artel S 照射在硅晶片上采樣的灰塵進(jìn)行比較,則可以通過照射來區(qū)分纖維灰塵。同樣,產(chǎn)品上的沉積物可以區(qū)分纖維粉塵,因此它作為一種針對(duì)纖維粉塵的措施的可視化工具非常有效。

       



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