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更新日期：2024-03-17
簡要描述：
日本kjtd臺式超聲波探傷可視化設(shè)備D-view超聲波探傷儀的應(yīng)用范圍是檢測半導體內(nèi)部的裂紋，區(qū)分粘附和剝離，檢測新材料（例如精細陶瓷和復(fù)合材料）的空隙和分層，或?qū)︼w機上使用的加工零件進行z終檢查。它已經(jīng)非常廣泛，并且已經(jīng)成功地檢查了異種金屬的接合面。
日本kjtd臺式超聲波探傷可視化設(shè)備D-view
有兩種在不破壞材料內(nèi)部的情況下記錄圖像的方法：X射線探傷和超聲探傷。我們正在開發(fā)結(jié)合了超聲波探傷儀和圖像處理設(shè)備的超聲波探傷儀。
超聲波探傷儀的應(yīng)用范圍是檢測半導體內(nèi)部的裂紋，區(qū)分粘附和剝離，檢測新材料（例如精細陶瓷和復(fù)合材料）的空隙和分層，或?qū)︼w機上使用的加工零件進行z終檢查。它已經(jīng)非常廣泛，并且已經(jīng)成功地檢查了異種金屬的接合面。
D-view（臺式超聲查看系統(tǒng)）是一種節(jié)省空間的臺式超聲探傷可視化設(shè)備，可以輕松地在實驗室或辦公室中安裝。我們完善的SDS系列高性能超聲波掃描儀的可用性和廣泛的數(shù)據(jù)處理軟件被繼承了下來，因此可以應(yīng)用于各個領(lǐng)域的材料檢查。當然，它配備了我們新開發(fā)的高頻超聲波探傷儀“ HIS3”。
D-view具有2軸掃描儀，可掃描水箱的工件以進行浸入式超聲波探傷，而作為探傷儀主體的高頻超聲波探傷儀HIS3可檢測脈沖反射方法的故障，并用于圖像處理和掃描儀。它由一臺可控制的工業(yè)計算機組成。
日本kjtd臺式超聲波探傷可視化設(shè)備D-view
| 超聲波探傷儀 HIS3 HF | 脈沖輸出 | -200V（空載） |
| 脈沖星下降時間 | 1.0ns以下 | |
| 接收帶 | 1.0-300MHz（-3dB） | |
| 增益調(diào)整范圍 | 0-71dB / 1dB | |
| 光路測量 | 0-40.94微秒 | |
| CPU控制 | 并行I / O，每個RS232C | |
| 掃描儀（2300） （2軸掃描儀標準規(guī)格） | 掃描范圍（mm） | X：300mm Y：300mm Z：100mm（Z為手動） 探頭角度校正范圍θ1：±25°θ2：±20° |
| 掃描速度 | z大300mm /秒 | |
| 掃描間距 | 0.01-9.99mm（XY） | |
| 掃描方式 | 平面掃描（XY模式） | |
| 其他 | 掃描區(qū)域示教，點動遙控功能 | |
| 數(shù)據(jù)處理 | 數(shù)據(jù)收集點 | z多200,000,000點（一次掃描記錄） |
| 數(shù)據(jù)存儲 | 硬盤，DVD-ROM，USB端口 | |
| 保存設(shè)置條件 | 同上 | |
| 圖像處理軟件 | 漸變顯示： 回聲等級： 實時處理： 圖像處理：
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| 其他選擇 | 彩色打印機，局域網(wǎng)連接 |
